METTLERTOLEDO 瑞士梅特勒電子天平 XPR205/AC的特點

配有LabX

一次即準的結果

集成的StatusLight?、LevelControl和GWP Approved協同作用，確保各項條件處于更佳狀態，獲得正確的稱量結果。

StaticDetect 靜電檢測

由于具備StaticDetect專業功能，XPR微量天平和分析天平可檢測樣品和容器的靜電荷。

始終可符合審計

將XPR分析天平連接至LabX軟件，為合規性和數據完整性提供全面支持。